当您的学术论文、前沿课题研究，或是企业的新产品研发、产线质控表征需要样品的薄膜厚度、光学常数、穆勒矩阵元素、退偏分析、各向异性、膜厚均匀性（Mapping）等高精密量测数据时，是否也遇到了以下困难：

设备精度到顶： 面对1~5nm的极限超薄膜，却没有足够高精度的测量仪器，研发数据天天飘，企业不敢投产、科研无法发文？

复杂膜系跑飞： 面对几十甚至上百层的复杂多层膜，建模型拟合如同抽丝剥茧，传统算法耗时耗力还经常“无解”？

特殊场景抓瞎： 芯片微区封装光斑太大测不到？曲面镜片或大型工件涂层根本塞不进传统的量测样品台？

外部检测受限： 委外第三方检测机构不仅费用昂贵、排队周期长，且数据拟合质量参差不齐，难以直接应用？

如您遇到诸如此类的情况，复享光学可帮您解决！

作为深度光谱检测领域的领军企业，复享光学始终坚守“深耕科技前沿、服务先进产业”的初心，乐于协助高校学子的学术研究，更深度赋能工业半导体制程与泛半导体领域的工艺迭代。

在此，复享光学全新推出《2026年度薄膜量测·全领域免费测样计划》。我们每月提供20个免费检测名额，全面面向高校/研究院课题组、工业产线质控实验室开放。只要您在科研、研发或质控中遇到薄膜量测与拟合难题，均可向复享光学寻求帮助！我们的资深应用工程师团队在详细了解需求后，将为您提供最佳的量测服务与定制报告。

全自动穆勒矩阵椭偏仪MetronME-XT-300

复享全自动穆勒矩阵椭偏仪MetronME-XT-300是针对科研级用户开发的一款高速、高精度、高稳定性光学测量仪器，基于多层膜干涉和椭偏测量原理，可实现透明、半透明介质膜、金属膜的膜厚和光学常数表征，以及块材光学常数表征；还包括各种各向同性/异性薄膜材料膜厚、光学纳米光栅常数以及一维/二维纳米光栅材料结构的表征分析；具备对位传感器自动对准，支持兼容4-12寸自动化Mapping扫描多点测量；适用于半导体、液晶面板、太阳能电池、光学镀膜等行业。

1，高精度

对SiO₂、SiN、光刻胶等常见薄膜，膜厚重复性精度优于0.005nm折射率重复性精度优于0.001，拟合算法成熟，重复性优异。可实现单原子层级膜厚测量准度；

2，全自动Mapping

内置高精度位移平台，兼容4-12寸自动化Mapping，支持真空吸附，支持栅格、放射状、螺旋线等扫描路径，生成膜厚 / 折射率分布云图、大幅提升检测效率；

3，先进的双旋转补偿器测量技术

单次测量可获取16组全穆勒矩阵光谱；可测量膜厚（单层 / 多层）,支持各向异性、退偏样品表征；

4，软件直观

直观展示实验值 vs 拟合值光谱，残差分析，快速评估拟合质量，支持图形化建模；

反射膜厚测量仪MetronFilm-EX

基于光学非接触技术，用于精密快速检测薄膜厚度的专业设备。采用自研高分辨光谱仪，搭配强大智能算法，可以进行透明或半透明的膜层厚度及光学常数（n&k）的无损测量。MetronFilm-EX搭载了可见光+紫外光源，准确度溯源NIST，可支持极薄膜到厚膜、单层膜到多层复杂膜系的测量分析。适用于半导体、光学涂层、显示面板、生物医药、光伏新能源、教学实验室等多种行业领域的薄膜测量。

1，超宽测量范围

1nm~260μm超宽测量范围，从超薄膜至厚膜达到超广覆盖；

2，溯源NIST，测量准确性有保证

膜厚在500nm以下准确度达到1nm， 膜厚在500nm以上准确度达到0.2%；

3，着眼特色工艺，助力先进制程

适用多种先进工艺，可测单/多层膜的厚度和n&k。二元复合多层膜实测可多达232层（见文章《当薄膜变成神经网络：复享光学为百层3D NAND量测找到新路径》 ）。可应用于如3D NAND、AR+HC复合光学涂层、 PERC薄膜等的复杂膜系测量；

4，快速测量

单层膜测量1s内完成；多层膜检测耗时数量级下降；

5，光学测量

非接触、非破坏测量；

6，节省空间、配置灵活、支持定制化

这不仅仅是一次免费的设备体验，更是一次与资深光学应用专家面对面探讨的机会。凡参与本次活动的客户，均可获得快速优质，精准全面的样件分析测试服务，结果由复享光学出具的 【专业定制薄膜量测报告（PDF版）】。

申请指南

只需3步，免费测样！

复享光学的量测指标已实现原子级、纳米级、微米级的超广量程全覆盖。为了保证每份测试报告的质量，本月免费测样活动仅限 20个免费名额，额满即止！

STEP 1｜线上登记（提交需求）

长按并识别下方二维码，花1分钟填写您的薄膜材料类型、预估厚度及测试需求。

STEP 2｜专家对接（寄送样品）

复享光学应用工程师将在24小时内与您电话/微信联系，确认测试可行性，并提供样品的官方寄送地址。

STEP 3｜获取报告（数据交付）

我们在收到样品后的5个工作日内完成测试，并将详尽的定制PDF测试报告发送至您的电子邮箱。