研究方向：量子光学

测量技术：显微双光子关联与荧光寿命

产品型号：gora-FLIM显微稳瞬态荧光光谱系统

NV色心是量子科技领域极具价值的研究对象——它在室温下即可作为稳定的单光子源、高精度量子传感器以及可光学读出的自旋量子比特载体，广泛应用于量子通信、量子计算和纳米尺度探测。

为了深入揭示其光物理机制并推动器件化应用，研究者通常采用共聚焦显微光谱技术结合时间分辨探测手段，通过测量二阶关联函数验证单光子发射纯度、通过荧光寿命成像探测能量转移与局域环境变化，同时利用双光子激发实现深层三维操控；这些研究手段不仅能够从基础层面阐明NV色心的能级结构、自旋-光相互作用以及非辐射跃迁路径，还可为量子器件的性能优化（如信号对比度提升、噪声抑制）提供定量依据，是连接材料物性与功能应用的关键桥梁。

复享光学解决方案：gora-FLIM显微稳瞬态荧光光谱系统

针对NV色心研究中的上述需求，复享光学提供以gora-FLIM显微稳瞬态荧光光谱系统为核心的完整解决方案。该产品凭借一个平台实现多种光谱检测能力，可充分满足NV色心双光子关联与荧光寿命研究的基本测试需求。

gora-Lite显微光谱测试系统

产品核心优势：

模块化设计，即插即用：gora-FLIM显微稳瞬态荧光光谱系统采用模块化设计，既可独立成系统，也可快速加装至用户现有的显微镜、探针台、冷台等环境设备，无需复杂的调试和光路搭建。

多模态光谱检测，一机多能：支持微区透反射光谱、荧光光谱、拉曼光谱、荧光寿命（TCSPC）、非线性光谱、光电流成像以及mapping扫描等多种原位检测模式，一套系统即可覆盖NV色心研究中的基本表征需求。

荧光寿命mapping，机台整体支持拉曼光谱测量，荧光光谱测量，荧光寿命测试及对应mapping测试

自动化控制，高效表征：配备智能化软件，支持自动切换测试模式、自动扫描和数据处理，大幅提升研究效率。

软件界面

复享光学gora-FLIM显微稳瞬态荧光光谱系统，以模块化、多模态、自动化为核心特色，为NV色心双光子关联与荧光寿命研究提供了一站式光谱解决方案。从单光子发射纯度验证到荧光寿命成像，从双光子激发到大面积mapping扫描，一套系统即可全面支撑量子科技前沿研究。（具体产品参数信息详见官网：www.ideaoptics.com）