展会回顾|复享光学CSEAC 2026之行圆满落幕
为期三天的“第十四届半导体设备与核心部件及材料展(CSEAC 2026)”,于 9月2日在无锡太湖国际博览中心圆满落幕,作为半导体设备领域极具影响力的行业盛会,此次展会汇聚产业链上下游企业、技术专家与行业同仁,搭建起技术碰撞、供需对接、生态共建的高端交流平台。复享光学携众多明星产品重磅亮相,与行业同仁、合作伙伴深度交流,共探机遇。


展会期间,复享光学化身技术交流枢纽,展位上全新的视觉呈现以及创新产品的重磅加持,全面展示了公司的技术实力与创新成果,吸引众多全球专业人士的驻足参观与交流洽谈,现场热闹非凡、人潮涌动,成为了展会上引人注目的存在。

团队伙伴与现场客户进行了深入交流,从产品需求到实际生产场景,从设备能力到工艺应用,一次次面对面的沟通,让客户更加直观地了解复享的产品与技术能力,也让我们进一步了解市场需求和客户在实际制造过程中关注的问题,为后续产品优化与应用拓展积累更多一线反馈。


在同期举办的CSEAC 2026设备、核心部件创新大赛上,上海复享光学-HELENA零像散成像光谱仪凭借其卓越的技术创新与优秀的产品表现,荣获 “CSEAC 2026产品创新奖-核心部件类一等奖”。此次获奖,是行业对复享光学技术创新与产品实力的高度认可,也是对复享光学长期坚持技术创新、自主研发、助力国内半导体产业链高质量自主可控发展的高度肯定。

北方华创科技集团股份有限公司总裁/中国电子专用设备工业协会理事长董博宇、通富微电子股份有限公司董事长石磊为复享光学颁奖

展位上复享光学展出了由基础科学研究到高端产品开发、从核心模组制造到系统方案集成的全方位、多层次光学技术与产品服务体系:

光谱椭偏测量探头SE—宽波段测量范围245nm~1000nm、高速测量,可达毫秒级测量与分析、灵敏度极高,可实现单原子层级膜厚测量准度。
HELENA 零像散成像光谱仪—真零像散成像、多通道超低串扰、超高分辨率、最佳光栅利用效率、可自由替换光栅塔轮、配件丰富。
光谱反射测量探头SR—超宽测量范围15nm~260um、准确度0.2%@500nm、适用多种先进工艺,单层膜测量1s内完成。
ZURO系列OES/IEP专用光谱仪—极低检出限、极高信噪比、极高灵敏度,低开口率、高深宽比,极弱发射光谱信号下的刻蚀终点检测。

展会的结束,是新合作的起点,衷心感谢每一位莅临交流、支持信任我们的新老客户与行业伙伴,本次无锡半导体展的圆满收官,是总结,更是全新的开端。

复享将始终以技术创新为核心驱动力,为全球客户提供更高品质、更具竞争力的光学技术产品和全面解决方案,与全球伙伴携手推动产业进步,共创价值未来!
下一站,我们相约深圳光博会。
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