首 页
产 品
应 用
案 例
下 载
我 们
   产品 Products
光谱仪
光谱仪
工业高速光谱仪 | SINO
高速光纤光谱仪 | FX2000
高速光谱仪|PG2000
微型光谱仪 | FX4000
高分辨光谱仪 | PG4000
制冷型光纤光谱仪 | NOVA
发射光谱监控光谱仪|ZURO
实验教学光谱仪|E820
近红外光谱仪 | NIR
背照式光谱仪 | PG2000-Pro
角分辨光谱仪 / 椭偏仪
角分辨光谱仪 / 椭偏仪
角分辨光谱仪 | R1
光栅效率与周期测量系统 | R1-DFG
生物分子互作光谱仪 | R1-SPR
有机发光材料角分辨光谱仪 | R1-OLED
显微角分辨光谱仪 | ARMS
超构表面光学检测 / 相位
超构表面光学检测 / 相位
超构透镜检测系统 | MetronLens
晶圆级光学计量与检测
晶圆级光学计量与检测
晶圆级衍射光波导光学检测系统 Metrondie-SRG
显微光谱 / 共焦光谱
显微光谱 / 共焦光谱
显微光谱仪 | Beagle-M
共焦拉曼/荧光光谱仪 | gora
显微光谱扩展附件
显微光谱扩展附件
显微平行光双口切换器 | DPS
显微光谱扩展口 | CMS
模块拉曼 / 荧光
模块拉曼 / 荧光
拉曼光谱仪 | K-Sens
拉曼光谱仪 | Kun
拉曼探头 | fProbe
荧光探头 | fProbe
光纤激光器 | fLaser
滤光片(组) | OpFilter
如何构建拉曼系统 •••
光伏器件光电表征
光伏器件光电表征
荧光量子产率检测系统 | LuminQY
在线原位荧光光谱仪 | InView-PL
高压光谱表征
高压光谱表征
高压拉曼光谱仪 | DiRa
红宝石标压系统 | RubyC
光源 / 光纤 / 配件
光源 / 光纤 / 配件
高功率卤素光源 | HL100
卤素光源 | HL2000
氘卤二合一光源 | iDH2000
石英光纤 | FIB
光纤准直镜 | FIBH
积分球 | IS
光纤探头 | P-TIP
光纤可调衰减器 | FVA
显微镜适配器 | C-Mount
标准铝镜 | STD-M
标准白板 | STD-WS
余弦矫正器 | STD-CC
光谱检测系统 / 软件
光谱检测系统 / 软件
透射光谱测量支架 | R2
反射光谱测量支架 | R3
光谱测试软件 | Morpho
比色皿光谱测量支架 | R4
工业检测
工业检测
D8 反射仪 | R9000
D8 反射仪 | R9000-2DMA
您当前所在的位置:
首页>
产品>
MetronLens,超构透镜光学检测系统
MetronLens,超构透镜光学检测系统
“光场 + 相位 + 远场” / 全面表征 / 简单易用
      
MetronLens 超构透镜光学检测系统
是一款面向超构透镜、超构表面、微透镜阵列等平面光学元件的专用光学检测系统。 该系统综合了显微成像技术、离轴数字全息技术以及远场成像技术等多种先进技术,可实现光场分布、相位分布和远场分布的原位检测,深刻揭示超构表面、超构透镜、微透镜阵列等平面光学元件的内在物理特性,为验证设计的准确性、制备加工工艺的优化提供了强有力的检测工具。
MetronLens 超构透镜光学检测系统
典型应用领域:
      
 超构表面(Metasurface) 
  是一种由亚波长的微纳结构组成的平面结构,可以高自由度的对光波进行调控和操纵,因此超构表面的研究需要测量它所调控的光场分布和相位分布。
      
 微透镜阵列(Microlens Array,MLA) 
  是由尺寸只有几十微米和数百微米的微型透镜构成的阵列,因此微透镜阵列的研究需要微米尺度的单透镜检测能力。
      
 衍射光学元件(Diffractive Optical Elements, DOE) 
  是基于光的衍射效应而设计的光学元件,核心是对光的相位进行调制,需要高分辨率的相位测量。
      
      MetronLens 超构透镜光学检测系统 在以上领域的应用得益于如下几个
创新点
:
 1 
 毫秒级相位检测 
MetronLens 基于“微型透镜检测系统及其检测方法”发明专利和离轴外差干涉技术,在显微体系下实现了毫秒级相位分布检测,相位分辨率可达 50mrad;
 2 
 高空间分辨率 
采用优异光学设计,结合大NA(大于 0.75)高倍率的成像系统和高像素数探测器,确保大视场下空间分辨率可达 0.6μm;
 3 
 高精度 z轴扫描 
配有三轴全闭环超高精度电控位移台,能够轻松实现 0~22mm 行程的光场扫描,z轴扫描定位精度最小可达到 ±1μm;
 4 
 多波长测试光源 
系统内部最多可集成 457nm、532nm、660nm 三种连续激光光源,可满足多样化的波段测试需求,并支持其他光源外部扩展。
      
      
了解更多内容:
 如何在显微尺度检测周期性样品? 
 如何测量纳米结构的角度色散? 
      
      
       Your browser does not support the video tag.
复享超构透镜光学检测系统的相关参考文献
✽
"Phase characterisation of metalenses."
Light: Science & Applications
(2021).
影响因子:20.257,单位:复旦大学,通讯作者:石磊, 董建文, 资剑, 蔡定平
✽
"A Highly Efficient Bifunctional Dielectric Metasurface Enabling Polarization-Tuned Focusing and Deflection for Visible Light."
Advanced Optical Materials
(2019).
影响因子:10.05,单位:韩国光云大学,通讯作者:Sang-Shin Lee
✽
"Experimental demonstration of optical trapping and manipulation with multifunctional metasurface."
Optics Letters
(2022).
影响因子:3.56,单位:西安光机所,通讯作者:王国玺, 姚保利
✽
"Metalenses at visible wavelengths: Diffraction-limited focusing and subwavelength resolution imaging."
Science
(2016).
影响因子:63.714,单位:哈佛大学,通讯作者:Federico Capasso
✽
"Revolutionary meta-imaging: from superlensto metalens."
Photon.Insights
(2023).
单位:南京大学,通讯作者:李涛,祝世宁,陈晨
✽
"A meta-device for intelligent depthperception."
Advanced Materials
(2023).
影响因子:16.639,单位:香港理工大学,通讯作者:蔡定平
✽
"Monocular metasurface camera for passivesingle-shot 4D imaging."
Nature Communications
(2023).
影响因子:8.799,单位:清华大学,通讯作者:杨原牧
§
建议标注文字:
MetronLens,Optical measurement system of metalenses. ideaoptics. China
// Thanks for your support!
Loading…
技术参数
技术参数
关键技术
关键技术
型号
描述
MetronLens
光场检测 + 远场检测
MetronLens-Phi
相位检测 + 光场检测 + 远场检测
Loading…
MetronLens
项目
值
测量模式:
透射光场分布检测,透射远场分布检测
可测量光学参数:
光场分布、焦距、数值孔径、PSF、MTF、相对聚焦效率、成像分辨率、远场分布
系统数值孔径:
0.75 @ 40X
视野范围:
Φ0.5mm @ 40X,Φ4mm @ 5X
空间分辨率:
0.45μm @ 40X,2.35μm @ 5X
z轴扫描精度:
±1μm(0~1mm 行程),±3μm(1~22mm 行程)
焦距最大测量范围:
5mm
标配光源:
532nm 光纤连续激光器
入射平行光发散角:
0.2°
光源拓展接口:
1个 FC/APC接口
Loading…
MetronLens-Phi
项目
值
测量模式:
透射相位分布检测,透射光场分布检测,透射远场分布检测
可测量光学参数:
相位分布、波相差、泽尼克像差、光场分布、焦距、数值孔径、PSF、MTF、相对聚焦效率、成像分辨率、远场分布
系统数值孔径:
0.75 @ 40X
视野范围:
Φ0.5mm @ 40X
空间分辨率:
0.6μm @ 40X
相位测量分辨率(RMS):
50mrad
相位测量波相差:
0.05λ
z轴扫描精度:
±1μm(0~1mm 行程),±3μm(1~22mm 行程)
焦距最大测量范围:
5mm
标配光源:
457nm、532nm、660nm 空间光连续激光器
入射平行光发散角:
0.1°
光源拓展接口:
1个 FC/APC接口、1个空间光接口
Loading…
选配模块
项目
值
偏振扩展:
支持实现入射/接收偏振加载,适配 4mm 厚度偏振片
定制服务:
支持其他激光波长扩展定制
Loading…
消像差设计
采用消除像差光学设计
入射平行光技术
采用专利的平行光入射模块,解决了光束发散的问题,入射平行光发散角 ≤ 1° 。
面阵背照式技术
可见波段采用制冷型面阵背照式技术,大幅提高量子化效率。
Loading…
相关案例:
MetronLens 在微型可调式艾里光束超构器件中的应用
MetronLens 在超构透镜相位检测中的应用
MetronLens 在超构表面偏振检测中的应用
MetronLens 在超构表面光场检测中的应用
光纤光谱仪 / 微型光谱仪
FX2000 微型光纤光谱仪
NIR 近红外光纤光谱仪
NOVA 制冷型光纤光谱仪
PG4000 高分辨光纤光谱仪
E820 实验教学光谱仪
显微光谱 / 微区光谱
CMS 显微镜光谱扩展口
fProbe 微区拉曼光谱仪探头
FIB-M 显微透反射光谱仪探头
iM1 显微光谱测量系统
HL2000 共焦照明卤素光源
角分辨光谱仪 / 椭偏仪
R1 宏观角分辨光谱仪
ARMS 显微角分辨光谱系统
与 显微光谱 联用
角分辨光谱案例
MetronLens超构表面光学检测系统
荧光光谱 / 拉曼光谱仪
K-Sens 拉曼光谱仪
gora 共焦拉曼光谱仪
Kun 拉曼光谱仪
拉曼光谱仪案例
gora-Lite 共焦显微光谱
光源 / 光纤 / 光谱系统
iDH2000 氘卤灯光源
D8 积分式反射仪
R3 反射测量系统
R2 透射测量系统
IS 积分球
关于复享
公司介绍
联系我们
新闻动态
加入我们
典型文献
沪ICP备16050435号
沪(杨)应急管危经许[2021]205125
沪公网安备31011002006429
推荐系统
R1 | 角分辨光谱系统
K-Sens | 拉曼光谱仪
低成本应用
FX2000 | 微型光谱仪
高灵敏光谱仪
PG2000-Pro | 背照式光谱仪
NOVA | 制冷型光谱仪
近红外光谱
NIR1700 | 900~1700nm
光源
HL2000 | 卤素光源
iDH2000 | 200~2500nm 氘卤光源
更高分辨率光谱仪
PG4000 | 高分辨光谱仪
ARMS | 角分辨光谱 // 显微
ARMS第一次实现了 角度 (k) + 空间 (x) + 光谱 (ω) 的三重分辨。
了解更多内容 ...
gora | 共焦拉曼 // 显微
gora 采用新一代共焦平台实现共焦状态下 即插&即用的共焦拉曼光谱仪。
了解更多内容 ...
Loading…
显微光谱系统应用
显微光谱(微区光谱)系统
角分辨光谱系统应用
微区光谱与显微角分辨光谱联用系统
通用光谱测量系统应用
等离子体监控
工业应用
工业定制光谱仪
共焦拉曼检测
基于共焦显微镜的拉曼微区光谱检测,用于生物和薄膜材料层析检测。
了解更多共焦拉曼检测...
角分辨光谱检测
基于ARS角分辨技术的光谱检测,可以快速获取样品的各种角分辨光谱。
了解更多角分辨光谱 ...
显微光谱
显微光谱即在显微镜基础上实现了微米级样品透反射、荧光、拉曼等光谱分析。
了解更多显微光谱 ...
Loading…
ARMS 在先进功能显示材料表征中取得的应用
做为一种先进显示应用价值的功能材料,广视角光谱性能是先进显示材料很重要的一个指标之一。
PG2000-Pro 在纳米复合材料上转换荧光中的应用
过度加热将损伤病灶周围正常组织细胞,因此发展高空间分辨的微观温度监控方法是提高光热治疗精度的关键因素。
微区光谱在结构色及全色印刷研究中的应用
文章报道了一种基于非对称 Fabry-Perot 共振腔的,可低成本制造的,并可实现单片集成的干涉式全色印刷术。
显微荧光寿命在纳米激光器研究中的应用
2017年7月,一篇发表于ACS Nano 的文章首次报道了一种室温下宽带可调的全无机铯卤化铅亚微米球单模激光器。
Loading…